PEEK：扩散采样曝光偏差校正插件

Yunwei Bai 等作者提出 PEEK，一种无需训练的确定性采样器插件，用于缓解扩散模型采样中的曝光偏差。其做法是：在每个去噪步骤先做一次临时单步更新，在前瞻状态上评估去噪器，再与下一步预测插值，形成下一噪声状态。 作者称，在 8 个像素空间与潜空间扩散模型（无条件、标签引导、文本引导）上，PEEK 相对 NFE 匹配基线将 FID 最高改善 49.3%，额外计算开销很小；每个模型的一次性校准耗时最多 2.2 分钟。

AI 根据报道生成 · 50 分钟前更新

还没有足够的连续观测数据，暂不绘制趋势。